Caracterización estructural y magnética de semiconductores magnéticos diluidos Zn(1-x)Ni(x)O sinterizados mediante reacción sólida por microondas

Resumen

Actualmente, los semiconductores con propiedades magnéticas representan materiales de interés científico por sus potenciales aplicaciones dentro del campo de la espintrónica, dado el ferromagnetismo que ellos pueden exhibir a temperatura ambiente. En este contexto, contribuyendo con la ampliación de las metodologías tradicionales en la preparación de materiales, se sinterizaron semiconductores magnéticos diluidos basados en ZnO dopado con Ni al 3% y 5% a través del método de reacción sólida con calentamiento por microondas, con el objetivo de investigar el comportamiento estructural y magnético de las muestras con el porcentaje del dopante. Según el refinamiento Rietveld de los difractogramas de rayos X, los ejemplares cristalizaron en estructura hexagonal wurtzita, con variaciones en los parámetros de red causadas por la incorporación de Ni en sitios propios del Zn. Las medidas de magnetización en función del campo y de la temperatura revelaron la presencia de ferromagnetismo a temperatura ambiente e histéresis térmica. Los análisis FTIR reflejan pequeños cambios en los perfiles de las bandas de absorción correspondientes al ZnO, producto de la presencia de Ni en su red. Los resultados encontrados indican que el proceso de sinterización empleado, permite obtener de forma rápida semiconductores magnéticos de naturaleza nanométrica con buena calidad cristalina.